@INBOOK{Stefanowicz2020:5f6094532467f00e332a8abc,
	author="{Stefanowicz, Konrad and Włażewski, Grzegorz}",
	title="{Wykorzystanie skanera optycznego do kontroli odlewów o skomplikowanych kształtach}",
	year="2020",
	type="rozdział w monografii naukowej",
	language="pl",
	booktitle="{Przemysł 4.0 : algorytmizacja problemów oraz digitalizacja procesów i urządzeń, 2019}",
	publisher="{Akademia im. Jakuba z Paradyża w Gorzowie Wielkopolskim}",
	pages="331--342",
	url="http://cwn.ajp.edu.pl/2020/06/",
	keywords="chmura punktów; odlew; skanowanie; ocena jakości",
}